掃描離子電導顯微鏡 SICM

掃描離子電導顯微鏡 SICM屬于掃描探針顯微鏡，它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術， SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息，并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。

掃描離子電導顯微鏡 SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內徑約幾十到幾百納米；
2、在探針內外均灌有電解質溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流；
3、當針尖與樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時，狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過，離子電流急速減?。?br />4、根據探針/樣品間距離與離子電流的關系，一個設定的電流值就代表了探針與樣品間一個固定的距離，讓探針在樣品表面以一定的路線移動掃描，控制器控制電流保持恒定以保證針尖與樣品始終保持同樣的距離，掃描完成后記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表面形貌。